Okänd komponent

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Tillverkningsår: 2025, Skick: ny, Röntgeninspektionssystem för medelstora förpackningar och påsar. Lämpligt för detektering av främmande föremål i metall, glas, sten, plast etc. i livsmedel eller icke-livsmedelsprodukter. - Specifikationer: Bandbredd: 410 mm; Detektionsnoggrannhet: Pb från Ø 0,2 mm, Fe från Ø 0,28 mm, SUS från Ø 0,28 mm, icke-metalliska såsom sten, glas från Ø 1,2 mm; Röntgeneffekt: 80 kVp, 1,25 mA; Detektorupplösning: 0,4 mm; Röntgenstrålning: < 1 µSv/h; Bandhöjd: 850 ± 30 mm; Bandhastighet (beroende på produkt): 10–100 m/min; Användargränssnitt: 15" pekskärm; Mjukvara: intellisens®X-ray; Arbetstemperatur: 5–35 °C; Utsorteringssystem: tillval enligt krav; Strömförsörjning: 220 V AC, 50/60 Hz; Systemdimensioner: L900xB920xH1825 mm; Vikt: 350 kg. Guodov Nm Injpfx Aayok Observera att våra nypriser ofta ligger under vanliga begagnatpriser. Ställ gärna en förfrågan och beskriv er förpackningsapplikation. - Vi har normalt 30–50 olika nya maskiner omgående tillgängliga från lager. För kundanpassade maskiner erbjuder vi mycket korta leveranstider från ca 3 veckor. - Alla maskiner levereras med full garanti.

Skick: Defekt reservdelsbärare (begagnad), Oxford Instruments X-Strata 960 röntgenfluorescensanalysator – reservdelsdonator / defekt Objektsbeskrivning: Här erbjuds en begagnad röntgenfluorescensanalysator av typen Oxford Instruments X-Strata 960. Utrustningen kommer från en laboratorietömning och säljs uteslutande som reservdelsdonator eller för reparation. Ingen funktionskontroll har utförts – därför säljs enheten som defekt enligt försäljningsvillkoren. Tekniska data – Oxford Instruments X-Strata 960 (utan bindande garanti) Funktion Beskrivning Modell: X-Strata 960 Tillverkare: Oxford Instruments Analysmetod: Röntgenfluorescensanalys (XRF) Användningsområden: Skikttjockleksmätning, materialanalys, ädelmetalltest Mätgeometri: Över- eller understrålande beroende på konfiguration Strålkälla: Röntgenrör (t.ex. ródiumanod), 50–100 W effekt Detektor: Proportionsräknare eller kisel-drift-detektor (SDD), beroende på utförande Mätområde skikttjocklek: ca 0,005 – 50 μm (beroende på material) Spotstorlek: ca 15 μm – 1 mm (beroende på kollimator) Z-axel: Motoriserad, upp till ca 230 mm mäthöjd Provrum (B × D × H): ca 580 × 510 × 230 mm Provbord: Manuell eller motoriserad (200 × 200 mm eller större, beroende på utrustning) Fokussystem: Optiskt / laserfokus, delvis automatiskt Operativsystem: Integrerad industri-PC med Windows-baserad utvärderingsmjukvara Strömförsörjning: 220–240 V / 50–60 Hz / ca 500–800 W Vikt: ca 150–200 kg (beroende på utförande) Skick: begagnad / defekt / för reservdelar Leveransomfattning: enligt bilder – utan tillbehör eller programvara Viktiga anmärkningar: Försäljning sker uttryckligen som defekt enhet utan funktionsgaranti. Artikeln säljs som reservdelsdonator eller för hobbyreparatörer. Ingen garanti för funktion, fullständighet eller tekniska parametrar. Kommersiell försäljning med uteslutande av allt ansvar gällande materiella fel, enligt § 447 BGB (distansköp). Leveransomfattning: - Oxford Instruments X-Strata 960 - Alla komponenter som syns på bilderna Ytterligare delar, tillbehör eller dokumentation ingår inte om det inte uttryckligen anges. Guedpfxshaapfs Aayok Frakt & avhämtning: Avhämtning möjlig och önskvärd i Borken. Frakt kan ordnas enligt överenskommelse. (Förbehåll för ändringar och fel i tekniska data och specifikationer!) Ytterligare frågor besvaras gärna via telefon.

Tillverkningsår: 2016, Skick: mycket bra (begagnad), Automatisk röntgeninspektion För inspektion av BGA-, QFN-, THT-, LED-, LGA- och andra lödfogar, synliga eller dolda. Övrigt: Inkl. offline-station och reparationsstation Operativsystem: Windows 7 Ultra-hastighets line-scan CCD-detektorer Testyta: 450 mm x 400 mm Bildtagning: 2D, 2,5D, 3D (skiktbilder med planär CT) Kretskortsmått: 60 - 450 x 50 - 400 mm AXI-upplösning: 6 - 30 µm / px AOI: Gujdpfowpuadox Aayjk Kamera synfält: 42 mm x 42 mm Upplösning: 21 µm Inspektionshöjd: -3 till 7,5 mm Optik: telecentrisk Transporthöjd: 950 mm +/- 25 mm Gränssnitt: SMEMA Breddjustering: automatisk

Tillverkningsår: 2016, Skick: färdig att användas (begagnad), Ett röntgeninspektionssystem från Anritsu i nyskick finns tillgängligt. Röntgeneffekt: 100W, maximal detekteringsbredd: 240 mm, maximal detekteringshöjd: 120 mm, detekteringshastighet för 2 kg till 5 kg: 10–60 m/min, detekteringshastighet upp till 2 kg: 60–90 m/min, detekteringshastighet för 5 kg till 10 kg: 10–40 m/min. Höljesmaterial: rostfritt stål, maskinens vikt: ca 255 kg, driftstimmar: under 50 h. Maskinen har inga tecken på slitage på transportbandet eller strålskyddsgardinerna. Dokumentation finns. Besiktning på plats är möjlig. Guodpfx Asvzr Auoayjk

Skick: begagnad, PANalytical PANalytical X’Pert PRO MPD röntgendiffraktometer (XRD) Utdrag ur serviceprotokoll: Utrustning: PANalytical X’Pert PRO MPD Datum: 2021-07-07 Utförda arbeten: - Återuppställning och idrifttagning av systemet - Anslutning av externa försörjningsledningar - Uppvärmningsfas - Komplett justering av goniometer och andra komponenter - Underhåll inkl. utbyte av defekta delar Använda reservdelar: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERI, Ni-Cd FLÄKT FÖR X-CELERATOR-ENHET FILTER VATTENFILTER Motor PW3050 ('(Utrustningen testades inte hos oss)') X’Pert PRO MPD är ett mycket mångsidigt och kraftfullt röntgendiffraktometer (XRD) för strukturell karakterisering av kristallina material – idealisk för såväl grundforskning som rutinanalyser inom industri och universitet. Tack vare sitt modulära system, snabba detektion, temperatur- och atmosfärskontroll, är instrumentet väl lämpat för både rutinmässiga analyser och komplexa in-situ-experiment. Godpfewycatsx Aayjuk Viktiga egenskaper: • Flera mätningsgeometrier möjliga: – Reflektionsläge enligt Bragg-Brentano (θ–2θ-modalitet) – Transmissionsgeometri för pulver i kapillär – SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) som tillval för nanostrukturanalys • Strålkälla och detektorer: – Vanligen kopparanod (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) – X’Celerator-detektor (1D, ultrasnabb) för parallell datainsamling • Modulärt system med PreFIX-teknologi: – Snabbt byte av optik och provhållare utan ominställning • In-situ-mätningar vid höga temperaturer: – Mätningar upp till ca 1200°C möjliga • Kontrollerad atmosfär: luft, kväve, syre (begränsad vid reduktivt) Typiska applikationer: • Fasanalys och kvantitativ Rietveld-utvärdering • Bestämning av kristallitstorlek, mikrodeformation och restspänning • In-situ-analys av fasövergångar, oxidation, kristallisation m.m. • SAXS-mätningar för analys av nanopartiklar och porstrukturer • Brett spektrum av provtyper: pulver, tunnfilm, keramer, läkemedel, katalysatorer m.m. Tekniska data (typiska): • Vinkelområde (2θ): ca 0,5° till 150° • Stegstorlek ner till 0,002° eller finare • Goniometer: Vertikal, 0–0, radie ca 240 mm • Temperaturområde: rumstemperatur till ca 1200°C • Atmosfär: luft, N₂, O₂ (begränsad vid reduktivt) • Detektorer: X’Celerator (1D), proportionalräknare Spridning & användning: X’Pert PRO MPD används världen över, t.ex. vid: • Universitet (ETH Zürich, TU Dresden, Uni Wien) • Forskningsinstitut (t.ex. Max Planck-institut, ICN2, IS2M) • Industri (materialutveckling, läkemedel, kemi) Skick: begagnad / used Leveransomfattning: (se bild) (Med reservation för ändringar och felskrivningar i tekniska data!) Vid ytterligare frågor, kontakta oss gärna via telefon.

Skick: bra (begagnad), Helmut Fischer Fischerscope röntgenfluorescens skikttjockleksmätare XDL- XYmZ Guodpfow Hbkdox Aayjk