Fischerscope Röntgenfluorescensspektrometer begagnade till salu (4)

Skick: begagnad, 1 st röntgenfluorescensspektrometer FISCHERSCOPE XDL-XYM Bwedpfjzqcn Nex Am Tjr med tangentbord, bildskärm och dator Färg: enligt bild, i enlighet med bilder och vid inspektion Skick: begagnad

Skick: begagnad, Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 – röntgenfluorescensmätare för skikttjockleksmätning Tillverkare: Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Tyskland Typ: XDL-XYZpT8 Modell: FISCHERSCOPE X-RAY Maskintyp: Röntgenfluorescensmätare / skikttjockleksmätare (XRF / RFA) Till salu en begagnad röntgenfluorescensmätare från tillverkaren Helmut Fischer GmbH + Co. KG. FISCHERSCOPE X-RAY är lämplig för icke-destruktiv skikttjockleksmätning och materialanalys med hjälp av röntgenfluorescens (XRF/RFA). Systemet är utformat för mätningar av funktionella skikt, korrosionsskyddande skikt samt olika metalliska beläggningar och används inom kvalitetskontroll, ytbehandling, forskning och laboratorieverksamhet. Enheten kommer från en lagerutförsäljning och säljs uttryckligen otestad och utan garanti. Tekniska data: Tillverkare: Helmut Fischer GmbH + Co. KG Modell: FISCHERSCOPE X-RAY Typ: XDL-XYZpT8 Serienummer: SN010002436 Tillverkad i Tyskland CE-märkning finns Mätsystem: Röntgenfluorescens (XRF / RFA) Mätkammare med C-spalt Standard-röntgenrör Proportionell räknarrör Fast bländare och fast filter DCM-slaglängd: 0–80 mm Matningsspänning: 230 V AC Frekvens: 50–60 Hz Effektförbrukning: 120 W Utrustning: Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 Mätkammare med skyddshölje Programvara Bsdpfx Aezl Ulvem Tswr Bruksanvisning Nätanslutning Serialport (Sub-D) Ytterligare tillbehör enligt bilder Användningsområden: Skikttjockleksmätning Materialanalys Röntgenfluorescensanalys (XRF) Kvalitetskontroll Ytbehandling Materialprovning Laboratorium Forskning och utveckling Skick: Begagnad / Used. Enheten kommer från en lagerutförsäljning. Visuellt skick enligt bilder. Enheten har inte testats av oss och säljs uttryckligen otestad och utan garanti. Leveransomfång: Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 Programvara Bruksanvisning Ytterligare tillbehör enligt bilder Leveransomfång som visas på bilderna. Ändringar, fel och föregående försäljning reserveras.

Skick: bra (begagnad), Helmut Fischer Fischerscope Röntgenfluorescens Skikttjockleksmätning XDL XDL-B XYmZ Bsdsw Hbimepfx Am Tewr

Skick: färdig att användas (begagnad), Tillverkningsår: 2001, Funktionalitet: begränsad funktionalitet, Säljer ett Fischerscope H100C XYp mikro-/nano-hårdhetsmätningssystem från Helmut Fischer (årsmodell 2001). Utrustningen användes senast i ett laboratorium men är för närvarande inte fullt fungerande och säljs därför uttryckligen som defekt / för reparatör / reservdelsspender. Kända problem: - Bordets matningsrörelse fungerar inte korrekt (bordet är under mätspetsen, inte under mikroskopet – riktad mätning är för närvarande inte möjlig). Troligen ett elektroniskt fel. - Mätningsbordet rör sig självständigt till vänster – kan vara ett fel på joysticken. - Indenterbyte fungerar inte korrekt (sonden går inte hela vägen till stoppet). Enheten lämpar sig särskilt för: • Reparation av personer med elektronikkompetens Bwodpfx Amsyu Nabs Tjr • Reservdelsutvinning • Forskning / hobbybrukare Det optiska skicket är bra med tanke på åldern.